منابع مشابه
Evaluation of Variations and Reliabilities of VLSIs by Using Circuit Simulators
1 はじめに 本稿では,ばらつきと信頼性を回路シミュレータを用 いて評価する手法について概説する.ばらつきは主にモ ンテカルロ法で評価を行うが,集積回路の微細化により 特に SRAMの不良解析が困難になってきている.ここ では,不良の境界付近のみでシミュレーションを行う手 法の紹介も行う.信頼性においては,一時故障 (ソフト エラー)と経年劣化 (BTI)の評価法を説明する.ソフト エラーは中性子などの粒子線が集積回路に飛び込んで発 生するエラーであり,FFやメモリの値が反転する.BTI (Bias Temperature Instability)は,MOSトランジスタ のゲート酸化膜の欠陥により発生する劣化現象である. その双方の回路レベルの検証法について述べる. 2 ばらつき評価 ばらつき評価においては,すべてのトランジスタの性 能を一律に変動させるワーストケース解析や,SPIC...
متن کاملA Study of Burst Optical Deflection Routing Protocol for WDM Optical Networks
近年のオプティカルネットワーキング技術の目覚しい進歩によって、IP のようなバーストデータをネイティブにサポ ートできるオプティカルインターネットの構築が話題になりつつある。バーストスイッチング WDM オプティカルネッ トワークはオプティカルインターネットの構築に適したネットワークアーキテクチャとして注目されている。しかし、 オプティカルプロセッシング能力の欠如によって、バースト衝突確率が高くなり,性能の劣化を避けることができない。 このような観点から,本稿では,衝突回避を効果的に行うことのできるバーストオプティカルディフレクションルーテ ィングプロトコルを示す。本プロトコルは,衝突回避のために、空いているリンクをファイバディレイラインとして利 用できる点に着目してデザインされている。本プロトコルによれば,衝突確率を効果的に抑えることができ、バースト オプティカルネットワークの性能...
متن کاملEnumeration of Graphs with a Specified Degree Sequence
ある属性をもつ対象が存在するのか,また存在すれ ば何個存在するのかという問,すなわち数え上げは, 科学的考察の基本をなすものである.指定された性質 をもつ対象の数え上げに関する多くの研究が知られて いる.更に,個数を数え上げるだけではなく,実際にす べての対象を生成するという列挙問題についても,最 近の計算機の性能の向上とともに,多くの列挙問題が 実際に解けるようになりつつある.また,列挙問題を 主に扱った本が多数出版されている [3]~[5], [13], [14]. もし,指定された属性をもつグラフの列挙ができれば, 理論的には様々な予想に対して反例を探すことを試み るリストに利用でき,応用的にはそれらのグラフを入 力とするプログラムのテストデータとして利用でき る.既に多くの列挙アルゴリズムが知られている.例 えば,[1], [2], [9], [17]である. 本論文はグラフ...
متن کاملMeasurement of human vocal emotion using fuzzy control
近年,豊かさに対する認識が変化しつつある中で, 豊かさを提供するものに求められている役割もまた, 変化しつつあるといわれている.すなわち,これまで 人はめんどうな仕事の代行という役割をものに求め てきたが,そのことは結果として人間同士のコミュニ ケーションの機会を奪い,その中で達成されていた情 緒的な代謝 [1]を不足させてしまったというのである. そのため,今度は「人にやさしい機械」というキャッチ フレーズなどに代表される,情緒的代謝のパートナー としての役割を,ものに期待するようになってきたの である.ものを作る立場からそのような期待にこたえ るためには,このような情緒的な役割を担うことので きるものをつくる必要がある.実際には,人間同士で 日常的に行われている情緒のコミュニケーションを分 析し,ものと人間との間のコミュニケーションにおい て備えるべき能力,すなわち人間の表出した...
متن کاملTransient Simulation of Random Telegraph Noise in Ring Oscillators by Using Verilog-AMS
近年の急速なMOSFETの微細化にともない,様々 な信頼性問題が顕在化してきている. トランジスタの 特性ばらつきはとりわけ重大な問題であり,高信頼性 が求められる集積回路において深刻な影響を及ぼす. 特性ばらつきは, 大きく静的な特性ばらつきと動的 な特性変動に分けられる [1]. 静的な特性ばらつきは, 製品の製造時にトランジスタの特性が決まり, チャネ ル部分に不純物をドーピングする際に不純物の数が ばらつく RDF (Random Dopant Fluctuation)など がその要因として挙げられる. 一方で, 動的な特性変 動の一つであるランダムテレグラフノイズ (Random Telegraph Noise: RTN)もスケーリングにともなう 問題として顕著になっている. RTNはMOSFETのゲートに電圧が印加されたと きに,ドレイン電流値が一時的に変動する現象である...
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ژورنال
عنوان ژورنال: YAKUGAKU ZASSHI
سال: 1913
ISSN: 0031-6903,1347-5231
DOI: 10.1248/yakushi1881.1913.374_345